參考答案：

XRD織構(gòu)檢測(cè)能夠獲得那些數(shù)據(jù)?檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)有哪些?費(fèi)用是多少?百檢可依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定試驗(yàn)方案。對(duì)薄膜樣品和塊體樣品等樣品進(jìn)行檢測(cè)分析。并出具嚴(yán)謹(jǐn)公正的檢測(cè)報(bào)告。

項(xiàng)目簡(jiǎn)介

多晶體各晶粒在空間的取向是任意的，各晶粒之間沒(méi)有一定的位向關(guān)系。而經(jīng)過(guò)冷加工，或者其他一些冶金，熱處理過(guò)程后(如鑄造、電鍍、氣相沉積、熱加工、退火等等)，多晶體的取向分布狀態(tài)可以明顯偏離隨機(jī)分布狀態(tài)，呈現(xiàn)一定的規(guī)則性。這樣一種位向分布就稱為織構(gòu)，或者擇優(yōu)取向。此項(xiàng)目通過(guò)X射線與晶體的相互作用，確定樣品的織構(gòu)。

適用樣品

此檢測(cè)主要適用于薄膜樣品和塊體樣品

樣品要求：粉末樣品不少于30mg，粒徑約40μm(320目)，粉末檢測(cè)需要壓片;塊體樣品長(zhǎng)寬不超過(guò)40mm，高5mm;

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