報(bào)告類(lèi)型: 【透射電子顯微鏡樣品形貌分析】電子報(bào)告、紙質(zhì)報(bào)告(中文報(bào)告、英文報(bào)告、中英文報(bào)告)
報(bào)告資質(zhì): CMA;CNAS
檢測(cè)周期: 3-10個(gè)工作日(特殊樣品除外)
服務(wù)地區(qū): 全國(guó),實(shí)驗(yàn)室就近分配
檢測(cè)用途: 電商平臺(tái)入駐;商超賣(mài)場(chǎng)入駐;產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn);產(chǎn)品認(rèn)證;出口通關(guān)檢驗(yàn)等
樣品要求: 樣品支持快遞取送/上門(mén)采樣,數(shù)量及規(guī)格等視檢測(cè)項(xiàng)而定
檢測(cè)報(bào)告圖片
高分辨透射電子顯微鏡樣品形貌分析主要技術(shù)指標(biāo):
1、點(diǎn)分辨率:0.25nm;線(xiàn)分辨率:0.102nm;STEM分辨率:0.20nm
2、加速電壓:80,100,200KV
3、傾斜角(X/Y):±42/±30°;
4、配備德國(guó)Bruker公司XFlash 5030T型X射線(xiàn)能譜儀
應(yīng)用范圍:
1.應(yīng)用于材料科學(xué)、生命科學(xué)、醫(yī)療、制藥、半導(dǎo)體、納米技術(shù)等領(lǐng)域的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀(guān)察與分析;
2.各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定性和半定量檢測(cè);
3.粉末、納米粒子形態(tài)和粒度測(cè)定;
4.復(fù)合材料界面特性的研究。
檢測(cè)報(bào)告有效期
一般透射電子顯微鏡樣品形貌分析報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間,不會(huì)標(biāo)注有效期。
檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格
需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定,請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。
檢測(cè)流程步驟
檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)
百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó),檢測(cè)領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋,為您提供透射電子顯微鏡樣品形貌分析服務(wù)。具體請(qǐng)咨詢(xún)?cè)诰€(xiàn)客服。