塊電子顯微鏡檢測報告如何辦理？檢測項目及標準有哪些？百檢第三方檢測機構(gòu)，嚴格按照塊電子顯微鏡檢測相關標準進行測試和評估。做檢測，找百檢。我們只做真實檢測。

涉及塊 電子顯微鏡的標準有461條。

國際標準分類中，塊 電子顯微鏡涉及到光學和光學測量、分析化學、光學設備、計量學和測量綜合、詞匯、空氣質(zhì)量、焊接、釬焊和低溫焊、教育、電子元器件組件、醫(yī)療設備、光電子學、激光設備、電子元器件綜合、金屬材料試驗、長度和角度測量、技術制圖、表面處理和鍍涂、電子顯示器件、復合增強材料、物理學、化學、建筑材料、橡膠和塑料用原料、流體動力系統(tǒng)、犯罪行為防范、航空航天制造用材料、飼料、集成電路、微電子學、航空航天用流體系統(tǒng)和零部件、液壓液、試驗條件和規(guī)程綜合、攝影技術、鋼鐵產(chǎn)品、半導體分立器件、陶瓷、核能工程、涂料和清漆、醫(yī)學科學和保健裝置綜合、紙和紙板、涂料配料、紡織纖維、化工產(chǎn)品、金屬生產(chǎn)、半導體材料、危險品防護。

在中國標準分類中，塊 電子顯微鏡涉及到電子光學與其他物理光學儀器、放大鏡與顯微鏡、基礎標準與通用方法、、計量綜合、電磁計量、教育、學位、學銜、技術管理、化學計量、檢驗專用設備、教學專用儀器、記錄儀器及光線示波器、光學設備、電子元件綜合、溫度與壓力儀表、化學試劑綜合、一般與顯微外科器械、醫(yī)療器械綜合、石油地質(zhì)勘探、石油勘探、開發(fā)與集輸工程綜合、半導體發(fā)光器件、稀有金屬及其合金分析方法、光電子器件綜合、金相檢驗方法、公共醫(yī)療設備、材料防護、電化學、熱化學、光學式分析儀器、金屬化學分析方法綜合、油頁巖、混凝土、集料、灰漿、砂漿、犯罪鑒定技術、環(huán)境衛(wèi)生、物理污染分析測試方法、氣體介質(zhì)與放射性物質(zhì)采樣方法、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器、畜禽飼料與添加劑、微電路綜合、醫(yī)用光學儀器設備與內(nèi)窺鏡、燃油系統(tǒng)及其附件、火工產(chǎn)品、液壓與氣動裝置、炭黑、物理學與力學、工業(yè)防塵防毒技術、基礎學科綜合、光學儀器綜合、大氣、水、土壤環(huán)境質(zhì)量標準、鋼鐵與鐵合金分析方法、半導體分立器件綜合、光學計量、特種陶瓷、化學、勘探采礦和工藝監(jiān)測核儀器、半導體集成電路、量具與量儀、造紙綜合、化妝品、紙、衛(wèi)生、安全、勞動保護、油、氣處理設備、元素半導體材料、建材原料礦。

行業(yè)標準-機械，關于塊 電子顯微鏡的標準

JB/T 5480-1991電子顯微鏡用光闌

JB/T 5481-1991電子顯微鏡用燈絲

JB/T 8230.12-1999顯微鏡.鏡筒滑塊和鏡筒槽的連接尺寸

JB/T 9352-1999透射電子顯微鏡試驗方法

JB/T 6842-1993掃描電子顯微鏡試驗方法

JB/T 5383-1991透射電子顯微鏡技術條件

JB/T 5384-1991掃描電子顯微鏡.技術條件

JB/T 5584-1991透射電子顯微鏡放大率測試方法

JB/T 5585-1991透射電子顯微鏡分辨力測試方法

JB/T 5586-1991透射電子顯微鏡分類和基本參數(shù)

國際標準化組織，關于塊 電子顯微鏡的標準

ISO/TS 21383:2021微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定

ISO/CD 25498:2023微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析

ISO 8036:2006光學和光子學.顯微鏡.光學顯微鏡浸液

ISO 15932:2013微光束分析.分析電子顯微鏡.詞匯

ISO/CD 19214:2023微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法

ISO 22493:2008微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯

ISO 16700:2004微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南

ISO 16700:2016微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南

ISO 25498:2010微光束分析.解析電子顯微測定法.透射式電子顯微鏡對選定區(qū)域進行電子衍射分析

ISO 25498:2018微光束分析.解析電子顯微測定法.透射式電子顯微鏡對選定區(qū)域進行電子衍射分析

ISO 19214:2017微束分析. 分析電子顯微術. 采用透射電子顯微鏡術測定絲狀晶體顯著增長方向的方法

ISO 11884-2:2007光學和光子學.立體顯微鏡的*低要求.第2部分:高性能顯微鏡

ISO 11884-1:2006光學和光子學.體視顯微鏡的*低要求.第1部分:通用體視顯微鏡

ISO 23729:2022表面化學分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復程序指南

ISO/TS 24597:2011微光束分析.掃描電子顯微鏡檢查法.圖像清晰度評價法

ISO 21466:2019微束分析.掃描電子顯微鏡.用CD-SEM評定臨界尺寸的方法

ISO 9220:1988金屬覆蓋層 鍍層厚度測量 掃描電子顯微鏡法

ISO 9220:2022金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法

ISO 19012-2:2009光學和光子學.顯微鏡物鏡名稱.第2部分:色差修正

ISO 23420:2021微束分析.分析電子顯微鏡.電子能量損失譜分析用能量分辨率的測定方法

ISO 13794:1999環(huán)境空氣 石棉纖維的測定 間接傳遞電子顯微鏡法

ISO 10312:1995環(huán)境空氣 石棉纖維的測定 直接傳遞電子顯微鏡法

ISO 5061:2002動物飼料.蓖麻油種子殼的測定.顯微鏡法

ISO 21363:2020納米技術 - 通過透射電子顯微鏡測定粒度分布的方案

ISO 13794:2019環(huán)境空氣 - 石棉纖維的測定 - 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

ISO 10312:2019環(huán)境空氣.石棉纖維的測定.直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

ISO 19749:2021納米技術.用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

ISO 21222:2020表面化學分析.掃描探針顯微鏡.用原子力顯微鏡和兩點JKR法測定柔順材料彈性模量的程序

ISO/WD TR 23683:2023表面化學分析 掃描探針顯微鏡 使用電掃描探針顯微鏡對半導體器件中載流子濃度進行實驗量化的指南

ISO 19012-1:2007光學和光子學.顯微鏡物鏡標號.第1部分:視野/平面圖平整度

ISO 22493:2014微束分析. 掃描電子顯微術. 詞匯

ISO 24639:2022微束分析.分析電子顯微鏡.用電子能量損失光譜法進行元素分析的能量標度校準程序

ISO/CD 20263:2023微束分析 分析電子顯微鏡 層狀材料橫截面圖像中界面位置的確定方法

ISO/TR 14880-5:2010光學與光子學.顯微鏡頭列陣.第5部分:測試指南

ISO 14966:2019環(huán)境空氣.無機纖維顆粒數(shù)值濃度的測定.掃描電子顯微鏡法

ISO/TS 10797:2012納米技術.利用透射電子顯微鏡法進行單壁碳納米管特征探測

ISO/TS 22292:2021納米技術.用透射電子顯微鏡重建棒支撐納米物體的三維圖像

ISO 20263:2017微束分析 - 分析透射電子顯微鏡 - 分層材料橫截面圖像中界面位置的測定方法

ISO 10936-1:2017光學和光子學.手術顯微鏡.第1部分:要求和測試方法

ISO 14966:2002環(huán)境空氣.無機纖維顆粒的數(shù)值濃度的測定.掃描電子顯微鏡檢查法

ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005光學和光子學.顯微物鏡系列.第1部分:詞匯.技術勘誤2

ISO 14880-1:2016光學和光子學.顯微物鏡系列.第1部分:詞匯和常規(guī)屬性

ISO 29301:2017微光束分析.分析電子顯微鏡法.具有周期性結(jié)構(gòu)的基準物質(zhì)校準圖像放大的方法

ISO 14880-2:2006光學和光子學.顯微物鏡系列.第2部分:波像差的試驗辦法

ISO/FDIS 29301:2023微束分析 分析電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準圖像放大倍率的方法

ISO 29301:2023微束分析 分析電子顯微鏡 使用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準圖像放大倍率的方法

ISO 14966:2002/cor 1:2007環(huán)境空氣.無機纖維顆粒數(shù)值濃度的測定.掃描電子顯微鏡法.技術勘誤1

ISO 29301:2010微光束分析.分析的透射電子顯微鏡法.具有周期性結(jié)構(gòu)的基準物質(zhì)校準圖像放大的方法

ISO 14880-4:2006光學和光子學.顯微物鏡系列.第4部分:幾何學特征的試驗辦法

ISO 16000-27:2014室內(nèi)空氣. 第27部分: 采用SEM(掃描電子顯微鏡檢查法) (直接方法)對表面纖維落塵的測定

ISO 17751-2:2014紡織品 羊絨、羊毛、其他特種動物纖維及其混紡品的定量分析 第2部分：掃描電子顯微鏡法

ISO 17751-2:2023紡織品羊絨、羊毛、其他特種動物纖維及其混合物的定量分析第2部分:掃描電子顯微鏡法

日本工業(yè)標準調(diào)查會，關于塊 電子顯微鏡的標準

JIS K 0132:1997掃描電子顯微鏡總則

JIS K 3850-1:2006空中纖維分子的測定.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法

JIS K 3850-1:2000空氣中纖維粒子的測量方法.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法

JIS K 0149-1:2008微光束分析.掃描電子顯微鏡法.校準圖像放大指南

JIS K 3850-3:2000空氣中纖維粒子的測量方法.第3部分:間接傳遞透射電子顯微鏡法

JIS K 3850-2:2000空氣中纖維粒子的測量方法.第2部分:直接傳遞透射電子顯微鏡法

JIS R 1633:1998掃描電子顯微鏡觀察用精細陶瓷和陶瓷粉末的樣品制備方法

JIS R 1683:2007用原子力顯微鏡方法測定陶瓷薄膜表面粗糙度的試驗方法

JIS R 1683:2014用原子力顯微鏡方法測定陶瓷薄膜表面粗糙度的試驗方法

JIS H 7804:2005用電子顯微法測定金屬晶體的粒徑的方法

英國標準學會，關于塊 電子顯微鏡的標準

BS ISO 25498:2018跟蹤更改 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析

18/30319114 DCBS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標記圖像文件格式

BS ISO 11884-2:2007光學和光子學.立體顯微鏡的*低要求.高性能顯微鏡

BS ISO 16700:2004微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準指南

BS ISO 8036:2006光學和光子學.顯微鏡.光學顯微學的浸液

BS ISO 11884-1:2006光學和光子學.體視顯微鏡的*低要求.通用體視顯微鏡

BS ISO 25498:2010微光束分析.解析電子顯微測定法.透射式電子顯微鏡對選定區(qū)域進行電子衍射分析

BS ISO 21466:2019微束分析 掃描電子顯微鏡 CDSEM評估關鍵尺寸的方法

BS EN ISO 9220:1989金屬鍍層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法

BS EN ISO 14880-1:2005光學和光子學.顯微透鏡系列.詞匯

BS ISO 23729:2022表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復程序指南

BS ISO 23420:2021微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測定方法

21/30412880 DCBS ISO 23729 表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復程序指南

BS ISO 24639:2022微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標度的校準程序

BS ISO 16700:2016跟蹤更改 微束分析 掃描電子顯微鏡 校準圖像放大率的指南

18/30344520 DCBS ISO 21466 微束分析 掃描電子顯微鏡 CD-SEM 評估關鍵尺寸的方法

BS ISO 13794:1999環(huán)境空氣.石棉纖維的測定.間接傳遞電子顯微鏡法

PD ISO/TS 10797:2012納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管

BS ISO 5061:2002動物飼料.蓖麻油種子殼的測定.顯微鏡法

21/30394409 DCBS ENISO 9220 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法

20/30380369 DCBS ISO 23420 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測定方法

BS ISO 10936-1:2002光學和光子學 手術顯微鏡 要求和試驗方法

21/30404763 DCBS ISO 24639 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標度的校準程序

BS ISO 19749:2021納米技術 用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

15/30292710 DCBS ISO 19214 透射電子顯微鏡測定線狀晶體生長方向的指南

BS EN ISO 9220:2022跟蹤更改 金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法

BS ISO 13794:2019周圍空氣 石棉纖維的測定 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

BS ISO 10312:2019周圍空氣 石棉纖維的測定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

BS EN ISO 14880-1:2016光學和光子學.顯微透鏡系列.詞匯和常規(guī)屬性

BS EN ISO 21363:2022納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

BS EN ISO 19749:2023納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

BS ISO 21363:2020納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

BS ISO 15932:2013微束分析. 分析電子顯微術. 詞匯

BS ISO 22493:2014微束分析. 掃描電子顯微術. 詞匯

BS ISO 21222:2020表面化學分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序

BS ISO 20263:2017微束分析 分析電子顯微鏡 層狀材料橫截面圖像中界面位置的確定方法

BS EN ISO 14880-2:2007光學和光子學.顯微物鏡系列.波像差的試驗辦法

PD ISO/TS 22292:2021納米技術 使用透射電子顯微鏡重建棒狀納米物體的 3D 圖像

BS ISO 14966:2019周圍空氣 無機纖維顆粒數(shù)值濃度的測定 掃描電子顯微鏡法

19/30351707 DCBS ISO 21222 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序

BS CECC 00013:1985電子元器件質(zhì)量評定協(xié)調(diào)體系.基本規(guī)范:半導體小片的掃描電子顯微鏡檢驗

BS EN ISO 14880-4:2006光學和光子學.顯微透鏡系列.幾何學特征試驗方法

BS PD ISO/TS 22292:2021納米技術 利用透射電子顯微鏡重建桿支撐納米物體的三維圖像

18/30351714 DCBS ISO 21363 納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

18/30351679 DCBS ISO 19749 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

BS ISO 10936-1:2017跟蹤更改 光學和光子學 手術顯微鏡 要求及測試方法

BS ISO 14966:2002環(huán)境空氣.無機纖維顆粒的數(shù)值濃度的測定.掃描電子顯微鏡檢查法

18/30375050 DCBS ISO 14966 環(huán)境空氣 無機纖維顆粒數(shù)值濃度的測定 掃描電子顯微鏡法

BS ISO 29301:2017微束分析 分析電子顯微鏡 利用具有周期性結(jié)構(gòu)的參考材料校準圖像放大倍率的方法

19/30394914 DCBS ISO 15632 微束分析 用于電子探針顯微鏡或電子探針微量分析儀(EPMA)的能量色散 X 射線光譜儀的規(guī)格和檢查的選定儀器性能參數(shù)

BS EN ISO 17751-2:2023紡織品 羊絨、羊毛等特種動物纖維及其混紡品的定量分析掃描電子顯微鏡法

BS DD ISO/TS 10798:2011毫微技術.利用掃描電子顯微鏡和能量色散X射線光譜法分析得出單層碳納米管的表示特征

BS EN ISO 14880-3:2006光學和光子學.顯微鏡系列.不同于波前像差的光學特征試驗辦法

DD ISO/TS 10798:2011納米技術 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析表征單壁碳納米管

BS ISO 29301:2010微光束分析.分析透射電子顯微鏡法.利用具有周期性結(jié)構(gòu)的標準物質(zhì)進行標定圖像放大的方法

BS EN ISO 17751-2:2016紡織品. 羊絨, 羊毛, 其他特種動物纖維及其混紡織物的定量分析. 掃描電子顯微鏡法

12/30228339 DCBS ISO 16000-27 室內(nèi)空氣 第 27 部分：用 SEM（掃描電子顯微鏡）測定表面沉降的纖維粉塵（直接法）

韓國科技標準局，關于塊 電子顯微鏡的標準

KS D ISO 22493-2012(2017)微束分析掃描電子顯微鏡詞匯

KS D ISO 22493:2022微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯

KS D ISO 22493:2012微光束分析.掃描電子顯微鏡.術語

KS M 0044-1999掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則

KS I 0051-1999(2019)掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則

KS I 0051-1999掃描電子顯微鏡試驗方法通則

KS D ISO 16700:2013微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南

KS B ISO 11884-2-2011(2016)光學和光子學立體顯微鏡*低要求第2部分:高性能顯微鏡

KS B ISO 11884-2-2011(2021)光學和光子學立體顯微鏡*低要求第2部分:高性能顯微鏡

KS D 2716-2008納米粒子的直徑測量技術.透射電子顯微鏡

KS B ISO 11884-2:2011光學和光子學.立體顯微鏡的*低要求.第2部分:高性能顯微鏡

KS D 2716-2008(2018)納米顆粒直徑的測量－透射電子顯微鏡

KS D ISO 16700-2013(2018)微束分析－掃描電子顯微鏡－圖像放大率校準指南

KS P ISO 10936-2:2020光學和光子學 - 操作顯微鏡 - 第2部分:眼部手術中使用的顯微鏡??的輕微危險

KS D 8544-2006金屬涂層.涂層厚度測量.透射電子顯微鏡法

KS D 8544-2016(2021)金屬涂層——涂層厚度測量——透射電子顯微鏡法

KS D ISO 9220:2009金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法

KS D ISO 9220-2009(2022)金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法

KS D ISO 9220-2009(2017)金屬鍍層鍍層厚度的測量掃描電子顯微鏡法

KS I ISO 4407:2012液壓油.利用顯微鏡的測量法來測量微粒子污染

KS I ISO 10312:2008環(huán)境空氣.石棉纖維的測定.直接傳遞電子顯微鏡法

KS I ISO 13794:2008環(huán)境空氣.石棉纖維的測定.間接傳遞電子顯微鏡法

KS I ISO 10312-2008(2018)環(huán)境空氣石棉纖維的測定直接透射電子顯微鏡法

KS I ISO 13794-2008(2018)環(huán)境空氣中石棉纖維含量的測定間接透射電子顯微鏡法

KS B ISO 19012-1-2016(2021)光學和光子學顯微鏡物鏡的名稱第1部分:視野/平面的平面度

KS B ISO 8040-2006(2021)光學和光子學.顯微鏡.管滑動和管槽連接的尺寸

KS B ISO 8478-2006(2016)光學和光子學顯微鏡管滑動和管槽連接的尺寸

KS B ISO 8478-2006(2021)光學和光子學.顯微鏡.管滑動和管槽連接的尺寸

KS B ISO 8040-2006(2016)光學和光子學顯微鏡管滑動和管槽連接的尺寸

KS D ISO 23833:2022微束分析.電子探針顯微分析（EPMA）.詞匯

KS B ISO 14880-2:2013光學和光子學.顯微物鏡系列.第2部分:波像差的試驗辦法

KS B ISO 14880-2:2008光學和光子學.顯微物鏡系列.第2部分:波像差的試驗辦法

KS D ISO TR 17270:2007微束分析－分析透射電子顯微術－電子能量損失譜學實驗參數(shù)測定技術報告

KS K ISO 17751-2:2019紡織品 - 羊絨 羊毛 其他特種動物纖維及其混合物的定量分析 - 第2部分:掃描電子顯微鏡法

KR-KS，關于塊 電子顯微鏡的標準

KS D ISO 22493-2022微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯

KS D 2716-2023納米顆粒直徑的測量-透射電子顯微鏡

KS P ISO 10936-2-2020光學和光子學 - 操作顯微鏡 - 第2部分:眼部手術中使用的顯微鏡??的輕微危險

KS B ISO 19012-1-2016光學和光子學顯微鏡物鏡的命名第1部分:視場平面度

KS C ISO 19749-2023納米技術——用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

KS C ISO 21363-2023納米技術——用透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

KS D ISO 23833-2022微束分析.電子探針顯微分析（EPMA）.詞匯

KS B ISO 10936-1-2023光學和光子學.操作顯微鏡.第1部分:要求和試驗方法

KS D ISO TR 17270-2007微束分析－分析透射電子顯微術－電子能量損失譜學實驗參數(shù)測定技術報告

KS K ISO 17751-2-2019紡織品 - 羊絨 羊毛 其他特種動物纖維及其混合物的定量分析 - 第2部分:掃描電子顯微鏡法

法國標準化協(xié)會，關于塊 電子顯微鏡的標準

NF ISO 15932:2014微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯

NF X21-005:2006微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南

XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011微束分析 掃描電子顯微鏡 評價圖像清晰度的方法

XP ISO/TS 24597:2011微束分析 - 掃描電子顯微鏡 - 評估圖像清晰度的方法

NF A91-108:1995金屬鍍層.鍍層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法

NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法

NF EN ISO 9220:2022金屬涂層.涂層厚度的測量.掃描電子顯微鏡法

FD T16-209:2012納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管

NF T16-404:2020納米技術. 通過透射電子顯微鏡測量粒度和形狀分布

NF T16-403*NF ISO 19749:2021納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量粒徑和形狀分布

NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022納米技術 通過透射電子顯微鏡測量粒徑和形狀分布

NF T25-111-4:1991碳纖維-織構(gòu)和結(jié)構(gòu)-第4部分：掃描電子顯微鏡斷口法

NF ISO 13794:2020環(huán)境空氣 石棉纖維測定 間接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

NF ISO 10312:2020環(huán)境空氣 石棉纖維的測定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

NF E48-651:1986液壓傳動.流體.用顯微鏡計數(shù)法測定粒子污染

NF X43-050:2021空氣質(zhì)量 用透射電子顯微鏡法測定石棉纖維濃度 間接法

NF EN ISO 19749:2023納米技術 - 通過掃描電子顯微鏡測定顆粒尺寸和形狀分布

NF EN ISO 21363:2022納米技術 - 通過透射電子顯微鏡測定顆粒尺寸和形狀分布

NF X21-016*NF ISO 15932:2014微束分析 分析電子顯微術 詞匯

NF X43-050:1996空氣質(zhì)量.用電子顯微鏡傳送法測定石棉纖維的密度.間接法

NF X21-010:2009微光束分析.掃描電子顯微術.詞匯

NF S10-132-1:2016光學和光子學.顯微物鏡系列.第1部分:詞匯和一般屬性

NF S10-132-4*NF EN ISO 14880-4:2006光學和光子學.顯微物鏡系列.第4部分:幾何學特征的試驗辦法

NF EN 60749-35:2006半導體器件 - 氣候和機械測試方法 - 第 35 部分：塑料封裝電子元件的聲學顯微鏡

NF ISO 16000-27:2014室內(nèi)空氣 - 第 27 部分：通過 SEM（掃描電子顯微鏡）測定表面沉積的纖維狀灰塵（直接法）

FD T16-203:2011納米技術 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管

NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014室內(nèi)空氣. 第27部分: 采用SEM (掃描電子顯微鏡檢查法) (直接方法) 對表面纖維落塵的測定

NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016紡織品 羊絨、羊毛、其他特種動物纖維及其混紡的定量分析 第2部分：掃描電子顯微鏡法

NF EN ISO 17751-2:2016紡織品 分析動物纖維、動物纖維和混紡纖維的定量 第2部分：電子顯微鏡和平衡法的方法

國家質(zhì)檢總局，關于塊 電子顯微鏡的標準

GB/T 22060-2008顯微鏡.鏡筒滑塊和鏡筒槽的連接尺寸

GB 7667-1996電子顯微鏡X射線泄漏劑量

GB 7667-2003電子顯微鏡X射線泄漏劑量

GB/T 18907-2002透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法

GB/T 18907-2013微束分析 分析電子顯微術 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法

GB/T 21637-2008冠狀病毒透射電子顯微鏡形態(tài)學鑒定方法

GB/T 18295-2001油氣儲層砂巖樣品掃描電子顯微鏡分析方法

GB/T 19267.6-2003刑事技術微量物證的理化檢驗第6部分;掃描電子顯微鏡法

GB/T 28634-2012微束分析.電子探針顯微分析.塊狀試樣波譜法定量點分析

GB/T 28044-2011納米材料生物效應的透射電子顯微鏡檢測方法通則

GB/T 17507-1998電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標樣通用技術條件

GB/T 18873-2002生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則

GB/T 18873-2008生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則

GB/T 23414-2009微束分析.掃描電子顯微術.術語

GB/T 17361-2013微束分析 沉積巖中自生粘土礦物鑒定 掃描電子顯微鏡及能譜儀方法

GB/T 19267.6-2008刑事技術微量物證的理化檢驗 第6部分:掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GB/T 31227-2014原子力顯微鏡測量濺射薄膜表面粗糙度的方法

GB/Z 21738-2008一維納米材料的基本結(jié)構(gòu).高分辨透射電子顯微鏡檢測方法

GB/T 17507-2008透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標樣的通用技術條件

GB/T 28873-2012納米顆粒生物形貌效應的環(huán)境掃描電子顯微鏡檢測方法通則

GB/T 21636-2008微束分析.電子探針顯微分析(EPMA)術語

GB/T 17361-1998沉積巖中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及X射線能譜鑒定方法

GB/T 32189-2015氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗法

GB/T 22092-2018電子數(shù)顯測微頭和深度千分尺

GB/T 22092-2008電子數(shù)顯測微頭和深度千分尺

GB/T 2679.11-2008紙和紙板 無機填料和無機涂料的定性分析.電子顯微鏡/X射線能譜法

GB/T 2679.11-1993紙和紙板中無機填料和無機涂料的定性分析電子顯微鏡/X射線能譜法

GB/T 32055-2015微束分析電子探針顯微分析波譜法元素面分析

GB/T 27760-2011利用Si（111）晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法

GB/T 28872-2012活細胞樣品納米結(jié)構(gòu)的磁驅(qū)動輕敲模式原子力顯微鏡檢測方法

GB/T 21638-2008鋼鐵材料缺陷電子束顯微分析方法通則

GB/T 30705-2014微束分析 電子探針顯微分析 波譜法實驗參數(shù)測定導則

GB/T 20725-2006波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則

GB/Z 26083-2010八辛氧基酞菁銅分子在石墨表面吸附結(jié)構(gòu)的測試方法（掃描隧道顯微鏡）

GB/T 15247-2008微束分析.電子探針顯微分析.測定鋼中碳含量的校正曲線法

國家計量技術規(guī)范，關于塊 電子顯微鏡的標準

JJF 1916-2021掃描電子顯微鏡校準規(guī)范

中國團體標準，關于塊 電子顯微鏡的標準

T/CSTM 00162-2020透射電子顯微鏡校準方法

T/CSTM 00166.3-2020石墨烯材料表征 第3部分 透射電子顯微鏡法

T/CSTM 00003-2019二維材料厚度測量 原子力顯微鏡法

T/GDASE 0008-2020石墨烯薄膜楊氏模量的測定 原子力顯微鏡法

T/TIAA 014-2018車載電子后視鏡用顯示器件光學測量方法

國家計量檢定規(guī)程，關于塊 電子顯微鏡的標準

JJG(地質(zhì)) 1016-1990透射電子顯微鏡檢定規(guī)程

JJG(教委) 11-1992掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程

JJG(教委) 12-1992透射電子顯微鏡檢定規(guī)程

JJG 550-1988掃描電子顯微鏡試行檢定規(guī)程

行業(yè)標準-教育，關于塊 電子顯微鏡的標準

JY/T 011-1996透射電子顯微鏡方法通則

JY/T 0581-2020透射電子顯微鏡分析方法通則

JY/T 0584-2020掃描電子顯微鏡分析方法通則

JY/T 010-1996分析型掃描電子顯微鏡方法通則

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于塊 電子顯微鏡的標準

GB/T 33834-2017微束分析 掃描電子顯微術 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法

GB/T 34331-2017黃瓜綠斑駁花葉病毒透射電子顯微鏡檢測方法

GB/T 34168-2017金、銀納米顆粒材料生物效應的透射電子顯微鏡檢測方法

GB/T 34831-2017納米技術 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環(huán)形暗場法

GB/T 33839-2017基于生物效應含碳基納米材料生物樣品的透射電子顯微鏡檢測方法

GB/T 32262-2015用于原子力顯微鏡檢測的脫氧核糖核酸樣品的制備方法

GB/T 33838-2017微束分析 掃描電子顯微術 圖像銳度評估方法

德國機械工程師協(xié)會，關于塊 電子顯微鏡的標準

DVS 2803-1974顯微鏡下的電子束焊接（調(diào)查）

DVS 2801-1968顯微鏡下的電阻焊（調(diào)查）

VDI 3861 Blatt 2-2008固定源排放廢氣中無機纖維顆粒的測量掃描電子顯微鏡法

VDI 3492-2004室內(nèi)空氣測量-環(huán)境空氣測量-無機纖維顆粒的測量-掃描電子顯微鏡法

VDI 3492-2013室內(nèi)空氣測量-環(huán)境空氣測量-無機纖維顆粒的測量-掃描電子顯微鏡法

美國國防部標準化文件（含MIL標準），關于塊 電子顯微鏡的標準

DOD A-A-54873-1993塑料顯微鏡載片盒子

DOD A-A-53609-1988顯微鏡防護玻璃罩鑷子

DOD A-A-54222-1990帶電水浴室(顯微鏡用薄片切片機薄紗樣本部分裝置)

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于塊 電子顯微鏡的標準

GB/T 35098-2018微束分析 透射電子顯微術 植物病毒形態(tài)學的透射電子顯微鏡鑒定方法

GB/T 40300-2021微束分析 分析電子顯微學 術語

GB/T 40066-2021納米技術 氧化石墨烯厚度測量 原子力顯微鏡法

GB/T 21636-2021微束分析 電子探針顯微分析（EPMA） 術語

GB/T 4930-2021微束分析 電子探針顯微分析 標準樣品技術條件導則

美國材料與試驗協(xié)會，關于塊 電子顯微鏡的標準

ASTM E766-98(2003)校準掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)

ASTM E766-98校準掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)

ASTM E2090-00利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計數(shù)的標準試驗方法

ASTM E2090-12利用光電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡對清潔室擦刷工具釋放粒子和纖維的尺寸差異計數(shù)的標準試驗方法

ASTM E986-97掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐

ASTM E986-04(2017)掃描電子顯微鏡光束尺寸表征的標準實踐

ASTM E766-14掃描電子顯微鏡放大倍率校準的標準方法

ASTM E2382-04(2020)掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關人工標準指南

ASTM E2382-04掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的指南

ASTM E3143-18a脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標準實施規(guī)程

ASTM E3143-18脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標準實施規(guī)程

ASTM E766-98(2008)e1掃描電子顯微鏡的放大系數(shù)的標準校正規(guī)范

ASTM E3143-18b脂質(zhì)體低溫透射電子顯微鏡的標準實施規(guī)程

ASTM C1723-16(2022)用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標準指南

ASTM C1723-10用掃描電子顯微鏡檢驗硬化混凝土的標準指南

ASTM C1723-16用掃描電子顯微鏡檢查硬化混凝土的標準指南

ASTM D3849-13用電子顯微鏡對碳黑形態(tài)特性的標準試驗方法

ASTM D3849-14用電子顯微鏡對碳黑形態(tài)特性的標準試驗方法

ASTM E2382-04(2012)掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的標準指南

ASTM D5756-02(2008)用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉塊表面負荷作微真空取樣和間接分析的標準試驗方法

ASTM E2859-11(2017)使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南

ASTM E285-08(2015)使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南

ASTM E986-04掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規(guī)程

ASTM D3849-95a(2000)用電子顯微鏡測定炭黑形態(tài)特征的標準試驗方法

ASTM D3849-07用電子顯微鏡測定炭黑形態(tài)特征的標準試驗方法

ASTM E766-14(2019)校準掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標準實施規(guī)程

ASTM E986-04(2010)掃描電子顯微鏡射束尺寸特征描述標準實施規(guī)程

ASTM D3849-22用電子顯微鏡測定炭黑形態(tài)特征的標準試驗方法

ASTM E3143-18b(2023)進行脂質(zhì)體冷凍透射電子顯微鏡檢查的標準實踐

ASTM E2859-11(2023)使用原子力顯微鏡測量納米粒子尺寸的標準指南

ASTM E766-14e1用于校準掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)的標準實施規(guī)程

ASTM D7201-06(2020)通過相位對比顯微鏡（帶有透射電子顯微鏡選項）在工作場所取樣和計數(shù)機載纖維（包括石棉纖維）的標準實踐

ASTM E3060-16使用動態(tài) (流量) 成像顯微鏡對生物醫(yī)藥制造業(yè)中顯微鏡下才能看到的粒子的測量的標準指南

ASTM B748-90(2006)用掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的方法

ASTM D3849-02炭黑的標準試驗方法.用電子顯微鏡分析炭黑的形態(tài)特征

ASTM D3849-04炭黑的標準試驗方法.用電子顯微鏡分析炭黑的形態(tài)特征

ASTM B748-90(1997)用掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的方法

ASTM D7201-06(2011)用相襯顯微鏡(也可選擇透射電子顯微鏡)在工作場所采樣,并計算空氣纖維(包括石棉纖維)含量的標準操作規(guī)程

ASTM E2859-11利用原子力學顯微鏡進行尺寸測量的標準指南

ASTM E2142-08(2015)用掃描電子顯微鏡評定和分類鋼中夾雜物的標準試驗方法

ASTM E2142-08用掃描電子顯微鏡分級和分類鐵中內(nèi)含物的標準試驗方法

ASTM D3849-14a炭黑的標準試驗方法. 使用電子顯微鏡測定炭黑的形態(tài)特征

ASTM B748-90(2010)掃描電子顯微鏡測量橫截面測定金屬涂層厚度的標準試驗方法

ASTM E2809-13在法醫(yī)油漆檢查中使用掃描電子顯微鏡/X射線光譜法的標準指南

ASTM B748-90(2021)用掃描電子顯微鏡測量橫截面測量金屬涂層厚度的標準試驗方法

ASTM E1588-95(2001)用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進行擊殘留物分析的標準指南

ASTM E1588-08用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進行擊殘留物分析的標準指南

ASTM E1588-10用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進行擊殘留物分析的標準指南

ASTM E2142-01利用掃描電子顯微鏡測定鋼中雜質(zhì)的額定值和分級的標準試驗方法

ASTM E1588-95用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進行擊殘留物分析的標準指南

ASTM B748-90(2016)通過用掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的試驗方法

ASTM D5756-02用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉質(zhì)量濃度作微真空取樣和間接分析的標準試驗方法

ASTM D5756-95用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉質(zhì)量濃度作微真空取樣和間接分析的標準試驗方法

ASTM B748-90(2001)通過掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的標準測試方法

ASTM D5755-95用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉結(jié)構(gòu)值濃度作微真空取樣和間接分析的標準試驗方法

ASTM D5755-02用透射電子顯微鏡對塵埃中石棉結(jié)構(gòu)值濃度作微真空取樣和間接分析的標準試驗方法

ASTM D5755-03用石棉結(jié)構(gòu)值表面負荷用透射電子顯微鏡對塵埃微真空取樣和間接分析的標準試驗方法

ASTM D5755-09用石棉結(jié)構(gòu)值表面負荷用透射電子顯微鏡對塵埃微真空取樣和間接分析的標準試驗方法

ASTM D5755-09(2014)e1用石棉結(jié)構(gòu)值表面負荷用透射電子顯微鏡對塵埃微真空取樣和間接分析的標準試驗方法

ASTM F1372-93(1999)用于氣體分布系統(tǒng)部件的金屬表面條件掃描電子顯微鏡（SEM）的標準測試方法

ASTM E1588-20通過掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜法進行支殘留分析的標準實踐

ASTM F1372-93(2020)用于氣體分布系統(tǒng)部件的金屬表面條件掃描電子顯微鏡（SEM）的標準測試方法

ASTM D6056-96(2011)工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度透射電子顯微鏡測定的標準試驗方法

ASTM D605-82(1996)e1用電子顯微鏡掃描測定工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度的標準試驗方法

ASTM D6059-96(2011)用電子顯微鏡掃描測定工作環(huán)境下空氣中單晶陶瓷晶須濃度的標準試驗方法

ASTM F1372-93(2005)氣體分配系統(tǒng)組件用金屬表面狀態(tài)的掃描式電子顯微鏡(SEM)分析的標準試驗方法

ASTM E280-98(2004)e1在法醫(yī)聚合物檢驗中使用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜（SEM/EDS）的標準指南

ASTM E1588-07e1用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測定法的射擊殘留物分析用標準指南

ASTM E1588-07用掃描電子顯微鏡法/能量色散X射線光譜測定法的射擊殘留物分析用標準指南

ASTM E280-21在法醫(yī)聚合物檢驗中使用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜（SEM/EDS）的標準指南

ASTM E2809-22在法醫(yī)聚合物檢驗中使用掃描電子顯微鏡/能量色散X射線光譜（SEM/EDS）的標準指南

ASTM F1372-93(2012)氣體分配系統(tǒng)組件用金屬表面狀態(tài)的掃描式電子顯微鏡 (SEM) 分析的標準試驗方法

ASTM E2530-06用Si(111)單原子層級對原子力顯微鏡進行次納米位移級的Z倍率校準的標準規(guī)程

ASTM D6480-05(2010)用透射電子顯微鏡對表面擦拭取樣中石棉結(jié)構(gòu)值濃度間接制備和分析的標準試驗方法

美國電子電路和電子互連行業(yè)協(xié)會，關于塊 電子顯微鏡的標準

IPC J-STD-035-1999非氣密封裝電子元件聲學顯微鏡

IPC TM-650 2.6.22-1995塑封電子元器件用的聲學顯微鏡

IPC/JEDEC J-STD-035-1999非氣密封裝電子元件用聲波顯微鏡[替代:IPC TM-650 2.6.22]

RU-GOST R，關于塊 電子顯微鏡的標準

GOST 21006-1975電子顯微鏡.術語、定義和字母符號

GOST R 8.594-2009確保測量一致性的國家體系.掃描電子顯微鏡

GOST R 8.636-2007國家測量統(tǒng)一性保證體系.掃描電子顯微鏡.校準方法

GOST 8.594-2009國家測量統(tǒng)一性保證體系.掃描電子顯微鏡.鑒定方法

GOST R 8.631-2007國家測量統(tǒng)一性保證體系.掃描電子測量顯微鏡.驗證方法

GOST R 56168-2014醫(yī)療電氣設備. 手術顯微鏡. 采購規(guī)范

GOST 8.593-2009國家測量統(tǒng)一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.鑒定方法

GOST R 8.630-2007國家測量統(tǒng)一性保證體系.原子能掃描探測顯微鏡.驗證方法

GOST R 8.635-2007國家測量統(tǒng)一性保證體系.原子力掃描探針顯微鏡.校準方法

GOST R 8.593-2009確保測量一致性的國家體系.原子力掃描隧道顯微鏡.檢定規(guī)程

GOST ISO 16000-27-2017室內(nèi)空氣 第27部分 通過 SEM（掃描電子顯微鏡）（直接法）測定表面上沉降的纖維粉塵

GOST R 8.697-2010確保測量一致性的國家體系.晶體中的平面間距.利用透射電子顯微鏡的測量方法

行業(yè)標準-醫(yī)藥，關于塊 電子顯微鏡的標準

YY 1296-2016光學和光子學手術顯微鏡眼科用手術顯微鏡的光危害

德國標準化學會，關于塊 電子顯微鏡的標準

DIN 58272:1983醫(yī)療器械；精制顯微鏡鑷子

DIN 58272:2009醫(yī)療器械.精制顯微鏡鑷子

DIN 58272:2016醫(yī)療器械.精制顯微鏡鑷子

DIN SPEC 52407:2015-03納米技術 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進行粒子測量的準備和評估方法

DIN EN ISO 9220:2022-05金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法

DIN EN ISO 9220:2021金屬涂層-涂層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）

DIN 22020-3:1998-08硬煤開采原材料的研究 硬煤、焦炭和煤球的顯微鏡檢查 第3部分：顆粒塊的顯微分析

DIN 22020-4:1998-12硬煤開采原材料的研究 - 硬煤、焦炭和煤球的顯微鏡檢查 - 第 4 部分：顆粒塊的顯微巖型分析

DIN EN ISO 19749:2023-07納米技術 - 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布（ISO 19749:2021）

DIN EN ISO 21363:2022-03納米技術 - 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布 (ISO 21363:2020)

DIN EN ISO 9220:1995金屬鍍層.鍍層厚度測量.電子掃描顯微鏡法 (ISO 9220:1988); 德文版本 EN ISO 9220:1994

DIN EN ISO 14880-2:2007光學和光子學.顯微物鏡陣列.第2部分:波前像差的試驗辦法

DIN EN 60749-35:2007-03半導體器件-機械和氣候測試方法-第35部分：塑料封裝電子元件的聲學顯微鏡

DIN ISO 16000-27:2014-11室內(nèi)空氣 第27部分：通過 SEM（掃描電子顯微鏡）測定表面上沉積的纖維灰塵（直接法）

DIN 22020-2:1998-08硬煤開采原材料的研究 硬煤、焦炭和煤球的顯微鏡檢查 第2部分：從塊狀材料和顆粒塊中制備拋光表面

DIN EN ISO 14880-4:2006光學和光子學.顯微物鏡系列.第4部分:幾何學特征的試驗辦法(ISO 14880-4-2006)

DIN 50452-1:1995半導體工藝用材料的檢驗.液體中粒子分析的試驗方法.第1部分:粒子的顯微鏡測定

DIN EN ISO 17751-2:2016-11紡織品 羊絨、羊毛、其他特種動物纖維及其混紡品的定量分析 第2部分：掃描電子顯微鏡法

DIN EN ISO 17751-2:2022-09紡織品 羊絨、羊毛、其他特種動物纖維及其混紡品的定量分析 第2部分：掃描電子顯微鏡法

行業(yè)標準-石油，關于塊 電子顯微鏡的標準

SY/T 5162-2014巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法

SY/T 5162-1997巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法

SY 5162-2014巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法

上海市標準，關于塊 電子顯微鏡的標準

DB31/T 297-2003掃描電子顯微鏡放大倍率校準方法

DB31/T 315-2004透射電子顯微鏡放大倍率校準方法

(美國)固態(tài)技術協(xié)會,隸屬EIA，關于塊 電子顯微鏡的標準

JEDEC J-STD-035-1999非氣密封裝電子元件用聲波顯微鏡

國際電工委員會，關于塊 電子顯微鏡的標準

IEC PAS 62191:2000非氣密封裝電子元件的聲學顯微鏡

國家能源局，關于塊 電子顯微鏡的標準

SY/T 5162-2021巖石樣品掃描電子顯微鏡分析方法

工業(yè)和信息化部，關于塊 電子顯微鏡的標準

YB/T 4676-2018鋼出相的分析透射電子顯微鏡法

SJ/T 11759-2020光伏電池電極柵線高寬比的測量 激光掃描共聚焦顯微鏡法

江蘇省標準，關于塊 電子顯微鏡的標準

DB32/T 3459-2018石墨烯薄膜微區(qū)覆蓋度測試 掃描電子顯微鏡法

行業(yè)標準-商品檢驗，關于塊 電子顯微鏡的標準

SN/T 4388-2015皮革鑒定 掃描電鏡和光學顯微鏡法

SN/T 2649.1-2010進出口化妝品中石棉的測定 第1部分：X射線衍射-掃描電子顯微鏡法

ESDU - Engineering Sciences Data Unit，關于塊 電子顯微鏡的標準

SPB-M6-3-201008 年 4 月：原子力顯微鏡（技術背景）

SPB-M2-1-2007通過原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的界面和流變學特性

SPB-M6-1-201008 月 4 日：使用原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的界面和流變特性

SPB-M14-1-2010月 10 日：通過原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的相互作用和流變學性質(zhì)

SPB-M6-2-2010月 8 日：通過原子力顯微鏡（AFM）測量瀝青質(zhì)與不同表面之間的膠體相互作用

SE-SIS，關于塊 電子顯微鏡的標準

SIS SS-ISO 9220:1989金屬涂層．涂層厚度測量．掃描電子顯微鏡方法

SIS SS CECC 00013-1985基本規(guī)范．半導體芯片的掃描電子顯微鏡觀察

SIS SS 11 11 15-1985鋼．夾渣含量評估方法．顯微鏡法．粒子人工計數(shù)和尺寸分布計算

歐洲標準化委員會，關于塊 電子顯微鏡的標準

EN ISO 9220:2022金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法

EN ISO 21363:2022納米技術 - 通過透射電子顯微鏡測定粒度分布的方案

EN ISO 9220:1994金屬覆蓋層.鍍層厚度測量.掃描電子顯微鏡法(ISO 9220-1988)

EN ISO 14880-1:2019光學和光子學.顯微物鏡系列.第1部分:詞匯

EN ISO 14880-1:2005光學和光子學.顯微物鏡系列.第1部分:詞匯

EN ISO 19749:2023納米技術.用掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

prEN ISO 9220:2021金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）

prEN ISO 21363:2021納米技術 通過透射電子顯微鏡測量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）

EN ISO 14880-2:2006光學和光子學.顯微物鏡系列.第2部分:波像差的試驗辦法

EN ISO 14880-4:2006光學和光子學.顯微物鏡系列.第4部分:幾何學特征的試驗辦法 ISO 14880-4-2006

丹麥標準化協(xié)會，關于塊 電子顯微鏡的標準

DS/EN ISO 9220:1995金屬鍍層 鍍層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法

DS/ISO 10936-2:2010光學和光子學 手術顯微鏡 第2部分：眼科手術中使用的手術顯微鏡的光危害

DS/ISO/TS 10797:2012納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管

DS/ISO 19749:2021納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量粒徑和形狀分布

DS/ISO/TS 22292:2021納米技術 使用透射電子顯微鏡對桿狀支撐的納米物體進行 3D 圖像重建

DS/EN 60749-35:2007半導體器件 機械和氣候試驗方法 第35部分：塑料封裝電子元件的聲學顯微鏡

DS/ISO/TS 10798:2011納米技術 使用掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜分析法表征單壁碳納米管

ES-UNE，關于塊 電子顯微鏡的標準

UNE-EN ISO 9220:2022金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡方法

UNE-EN ISO 21363:2022納米技術 通過透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

UNE-EN ISO 19749:2023納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布

UNE-EN 60749-35:2006半導體器件 機械和氣候測試方法 第35部分：塑料封裝電子元件的聲學顯微鏡

行業(yè)標準-公共安全標準，關于塊 電子顯微鏡的標準

GA/T 1939-2021法庭科學 電流斑檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1938-2021法庭科學 金屬檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1937-2021法庭科學 橡膠檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 909-2010微量物證的提取、包裝方法 掃描電子顯微鏡/能譜法檢驗射擊殘留物

GA/T 1522-2018法庭科學 射擊殘留物檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1521-2018法庭科學 塑料元素成分檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1519-2018法庭科學 墨粉元素成分檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 1520-2018法庭科學 黑**、煙**元素成分檢驗 掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

GA/T 823.3-2018法庭科學油漆物證的檢驗方法 第3部分：掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

IT-UNI，關于塊 電子顯微鏡的標準

UNI 7604-1976用復制品進行的金屬材料電子顯微鏡檢測．顯微照相檢測用復制品的準備

UNI 7329-1974使用復制品進行金屬材料的電子顯微鏡檢測．顯微結(jié)構(gòu)檢測用復制品的準備

PH-BPS，關于塊 電子顯微鏡的標準

PNS ISO 21363:2021納米技術.用透射電子顯微鏡測量粒度和形狀分布

美國國防后勤局，關于塊 電子顯微鏡的標準

DLA SMD-5962-86018 REV D-2006硅單塊 交流型等離子體顯示設備直線微型電路

DLA SMD-5962-86088-1986硅單塊 繪圖顯示控制器,數(shù)字微型電路

AENOR，關于塊 電子顯微鏡的標準

UNE-EN ISO 9220:1996金屬涂層 涂層厚度的測量 掃描電子顯微鏡法 （ISO 9220:1988）

UNE 77236:1999環(huán)境空氣 石棉纖維的測定 直接轉(zhuǎn)移透射電子顯微鏡法

立陶宛標準局，關于塊 電子顯微鏡的標準

LST EN ISO 9220:2001金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO 9220:1988）

LST EN 60749-35-2007半導體器件 機械和氣候測試方法 第35部分：塑料封裝電子元件的聲學顯微鏡（IEC 60749-35:2006）

美國機動車工程師協(xié)會，關于塊 電子顯微鏡的標準

SAE ARP598C-2003(R)液體動力系統(tǒng)的航空顯微鏡粒度法和微粒子污染

AT-ON，關于塊 電子顯微鏡的標準

OENORM EN ISO 9220:2021金屬鍍層-鍍層厚度的測量-掃描電子顯微鏡法（ISO/DIS 9220:2021）

OENORM EN ISO 21363:2021納米技術 通過透射電子顯微鏡測量粒徑和形狀分布（ISO 21363:2020）

國家*用標準-國防科工委，關于塊 電子顯微鏡的標準

GJB 5384.22-2005煙**性能試驗方法 第21部分:煙霧固態(tài)微粒粒子數(shù)濃度測定 電子顯微鏡法

GJB 5384.23-2005煙**性能試驗方法 第23部分:煙霧固態(tài)微粒粒度頒布測定 電子顯微鏡法

國家*用標準-總裝備部，關于塊 電子顯微鏡的標準

GJB 8684.22-2015煙**性能試驗方法 第22部分：煙霧固態(tài)微粒粒子數(shù)濃度測定 電子顯微鏡法

GJB 8684.23-2015煙**性能試驗方法 第23部分：煙霧固態(tài)微粒粒度分布測定 電子顯微鏡法

CN-STDBOOK，關于塊 電子顯微鏡的標準

圖書 a-4565電子顯微分析實用方法

未注明發(fā)布機構(gòu)，關于塊 電子顯微鏡的標準

BS CECC 13:1985(1999)電子元件質(zhì)量評估協(xié)調(diào)制度：基本規(guī)范：半導體芯片的掃描電子顯微鏡檢查

DIN EN ISO 21363:2022納米技術 – 使用透射電子顯微鏡測量顆粒尺寸和顆粒形狀分布

DIN EN 160200-1:1998經(jīng)過質(zhì)量評估的電子微波模塊

BE-NBN，關于塊 電子顯微鏡的標準

NBN EN ISO 9220:1995金屬保護層．保護層厚度的測定：使用電子掃描顯微鏡（ISO 9220-1988）

IPC - Association Connecting Electronics Industries，關于塊 電子顯微鏡的標準

IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999非氣密封裝電子元件的聲學顯微鏡（包含修正案 1：2007年1月）

JP-JEITA，關于塊 電子顯微鏡的標準

JEITA ED2721-2008等離子顯示模塊的電氣接口

行業(yè)標準-核工業(yè)，關于塊 電子顯微鏡的標準

EJ/T 20176-2018金剛石刀具刃口鋒利度的原子力顯微鏡測量方法

美國國家標準學會，關于塊 電子顯微鏡的標準

ANSI/ASTM D6059:2001用掃描電子顯微鏡測定工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法

ANSI/ASTM D6056:2001用傳輸電子顯微鏡測定工作環(huán)境空氣中單晶陶瓷須晶濃度的方法

GOSTR，關于塊 電子顯微鏡的標準

PNST 508-2020納米技術 單壁碳納米管 通過掃描電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜法表征

PNST 507-2020納米技術 單壁碳納米管 使用透射電子顯微鏡和能量色散 X 射線光譜法進行表征

YU-JUS，關于塊 電子顯微鏡的標準

JUS U.M1.056-1993混凝土．顯微鏡分析下的加氣混凝土含量、因子以及空隙距離的測定

IX-IX-IEC，關于塊 電子顯微鏡的標準

IEC TS 62607-6-17:2023納米制造 關鍵控制特性 第 6-17 部分：石墨烯基材料 階參數(shù)：X 射線衍射和透射電子顯微鏡

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。