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溫度壽命檢測(cè)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)匯總

檢測(cè)報(bào)告圖片樣例

溫度壽命檢測(cè)報(bào)告如何辦理?檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?百檢第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu),嚴(yán)格按照溫度壽命檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。做檢測(cè),找百檢。我們只做真實(shí)檢測(cè)。

涉及溫度 壽命的標(biāo)準(zhǔn)有20條。

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中,溫度 壽命涉及到光纖通信、電工和電子試驗(yàn)、電工器件、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、航空航天制造用緊固件、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測(cè)量、半導(dǎo)體分立器件。

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中,溫度 壽命涉及到光通信設(shè)備、連接器、低壓配電電器、程序語(yǔ)言。

TIA - Telecommunications Industry Association,關(guān)于溫度 壽命的標(biāo)準(zhǔn)

TIA/EIA-455-4B-1993FOTP-4 光纖元件溫度壽命測(cè)試

美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于溫度 壽命的標(biāo)準(zhǔn)

ANSI/TIA/EIA 455-4C-2002纖維光學(xué)元件溫度壽命試驗(yàn)

ANSI/EIA 364-17B:1999電連接器.有或無(wú)電氣負(fù)載的溫度壽命試驗(yàn)程序

ANSI/EIA 364-17C:2011電連接器和插座的有/無(wú)電力負(fù)荷測(cè)試規(guī)程的溫度壽命

ANSI/EIA 364-58A:2003電連接器用帶有可拆卸觸點(diǎn)的連接器的機(jī)械荷載溫度壽命(在一定溫度下靜態(tài)機(jī)械荷載)

美國(guó)電信工業(yè)協(xié)會(huì),關(guān)于溫度 壽命的標(biāo)準(zhǔn)

TIA/EIA-455-4C-2002FOTP-4.光纖元部件的溫度壽命試驗(yàn)

地方標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于溫度 壽命的標(biāo)準(zhǔn)

CNS 10875-1987光纖裝置檢驗(yàn)法(溫度壽命試驗(yàn)FOTP–4)

美國(guó)電子元器件、組件及材料協(xié)會(huì),關(guān)于溫度 壽命的標(biāo)準(zhǔn)

ECA EIA-364-58A-2003TP-58 具有可移動(dòng)連接的連接器的機(jī)械負(fù)荷溫度壽命

ECIA - Electronic Components Industry Association,關(guān)于溫度 壽命的標(biāo)準(zhǔn)

364-17A-1987TP-17A 電氣連接器帶或不帶電氣負(fù)載測(cè)試程序的溫度壽命

EIA-364-17B-1999TP-17B 電氣連接器和插座有或無(wú)電氣負(fù)載測(cè)試程序的溫度壽命

EIA-364-17C-2011TP-17C 電氣連接器和插座有或沒(méi)有電負(fù)載測(cè)試程序的溫度壽命

EIA-364-58A-2003TP-58-A 帶可拆卸觸點(diǎn)的連接器的機(jī)械負(fù)載溫度壽命(溫度下的靜態(tài)機(jī)械負(fù)載)電氣連接器測(cè)試程序

364-58-1987TP-58 溫度壽命 帶有可拆卸觸點(diǎn)的連接器的機(jī)械負(fù)載(溫度下的靜態(tài)機(jī)械負(fù)載)

美國(guó)電子元器件、組件及材料協(xié)會(huì),關(guān)于溫度 壽命的標(biāo)準(zhǔn)

ECA EIA-364-17C-2011TP-17C 電氣連接器和插座有或沒(méi)有電負(fù)載測(cè)試程序的溫度壽命

ECA EIA-364-17B-1999TP-17B 電連接器和插座的帶或不帶電氣負(fù)荷測(cè)試程序的溫度壽命

ECA SP 5156-2007電連接器.有電氣負(fù)載或無(wú)電氣負(fù)載時(shí)溫度壽命.發(fā)表為ANSI/EIA/ECA-364-17C

(美國(guó))固態(tài)技術(shù)協(xié)會(huì),隸屬EIA,關(guān)于溫度 壽命的標(biāo)準(zhǔn)

JEDEC JESD22-A101D-2015穩(wěn)態(tài)溫濕度偏壓壽命試驗(yàn)

JEDEC JESD22-A100C-2007循環(huán)溫濕度偏壓壽命測(cè)試

JEDEC JESD22-A100D-2013循環(huán)溫濕度偏壓壽命測(cè)試

韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局,關(guān)于溫度 壽命的標(biāo)準(zhǔn)

KS C IEC PAS 62161-2002(2012)穩(wěn)態(tài)溫濕度偏差壽命試驗(yàn)

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)流程步驟

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