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標準簡介：本標準規(guī)定了貴金屬漿料方阻的測試方法。本標準適用于貴金屬燒結型漿料方阻的測定。非貴金屬漿料亦可參照使用。
標準號：GB/T 17473.3-1998
標準名稱：厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法 方阻測定
英文名稱：Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of sheet resistance
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1998-08-19
實施日期：1999-03-01
中國標準分類號（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H21金屬物理性能試驗方法
國際標準分類號（ICS）：冶金>>金屬材料試驗>>77.040.01金屬材料試驗綜合
替代以下標準：被GB/T 17473.3-2008代替
起草單位：昆明貴金屬研究所
歸口單位：全國有色金屬標準化技術委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量技術監(jiān)督局
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