檢測(cè)報(bào)告圖片模板：
檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本指導(dǎo)性技術(shù)文件規(guī)定了采用高分辨透射電子顯微鏡檢測(cè)納米材料中一維或準(zhǔn)一維納米材料的原理、術(shù)語(yǔ)及定義、儀器和設(shè)備、樣品制備、測(cè)量程序、結(jié)果表示和試驗(yàn)報(bào)告等內(nèi)容。本指導(dǎo)性技術(shù)文件適用于測(cè)量一維或準(zhǔn)一維納米材料的基本結(jié)構(gòu)（形貌、排列情況、大小線(xiàn)度的分布、晶化情況、生長(zhǎng)取向關(guān)系），元素組分、截面及界面原子排布等。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/Z 21738-2008
標(biāo)準(zhǔn)名稱(chēng)：一維納米材料的基本結(jié)構(gòu) 高分辨透射電子顯微鏡檢測(cè)方法
英文名稱(chēng)：Fundamental structures of one dimensional nanomaterials - High resolution electron microscopy characterization
標(biāo)準(zhǔn)類(lèi)型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：指導(dǎo)性技術(shù)文件
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2008-05-08
實(shí)施日期：2008-11-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（CCS）：儀器、儀表>>光學(xué)儀器>>N30光學(xué)儀器綜合
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)號(hào)（ICS）：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>光學(xué)和光學(xué)測(cè)量>>17.180.01光學(xué)和光學(xué)測(cè)量綜合
起草單位：中國(guó)科學(xué)院物理研究所電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)室
歸口單位：全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)納米材料分技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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