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檢測執(zhí)行標準信息一覽：
標準簡介：本部分適用于光電子器件的測試方法，用于光纖系統(tǒng)或子系統(tǒng)的除外。
標準號：GB/T 15651.3-2003
標準名稱：半導體分立器件和集成電路 第5-3部分：光電子器件 測試方法
英文名稱：Discrete semiconductor devices and integrated circuits—Part 5-3:Optoelectronic devices—Measuring methods
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2003-01-01
實施日期：2004-08-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L50光電子器件組合
國際標準分類號（ICS）：電子學>>31.260光電子學、激光設(shè)備
起草單位：華禹光谷股份有限公司半導體廠
歸口單位：全國半導體器件標準化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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